本文標題："顯微衍射技術電子圖象-晶粒尺寸小于15-20μm"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2014-10-7 17:24:56
顯微衍射技術電子圖象-晶粒尺寸小于15-20μm
在多晶體中，各個晶粒的取向是通過蝕坑，或由顯微
衍射技術得到的電子圖象確定。立方對稱的主要平面
中蝕坑的典型形狀。但如果晶粒尺寸小于15-20μm，
則很難得到清晰的蝕坑.為此目的而使用電子顯微鏡是很費力的。
對很大晶粒(超過0. 5mm)的取向可在勞埃照片或從單個大
晶粒上獲得的反射線勞埃照片上測定。所確定的取向在相應
的極圖上用圓點來標注。在極圖上，這些圓點分布的花樣表征織構.
從不同晶粒中取得的大量勞埃照片使極圖更可靠的表征織構類型。
然而這個方法相當費力。
在這方面，建立在測量單個晶粒的反射強度基礎上的X射線
方法在再結晶分析中獲得更廣泛的應用.
后一篇文章：晶粒粗化并把這種組織叫做粗晶粒-金屬分析顯微鏡 »
前一篇文章：« 合金晶粒之間具有液相中間夾層截面分析顯微鏡
tags:技術,材料學,金相顯微鏡,上海精密儀器,
顯微衍射技術電子圖象-晶粒尺寸小于15-20μm,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應
本頁地址：/gxnews/1910.html轉載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/