本文標題："光的波長可與顆粒粒度，光學顯微鏡測定顆粒投影面積"
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光的波長可與顆粒粒度，光學顯微鏡測定顆粒投影面積
自動化程度。
應(yīng)該指出，這些因素許多是相互關(guān)聯(lián)的，其相對重要性
因不同的應(yīng)用而有差異。
正如緒言中所敘述的，某些分離設(shè)備(如沉降、離心分
離和水力旋流器)的分離效率和其它操作特性是由顆粒在液
體中的行為決定的。應(yīng)用這些設(shè)備時，通常用斯托克斯直徑
表示顆粒粒度。因此，沉降或流體分級等測定斯托克斯直徑
的方法在這方面已得到廣泛應(yīng)用。雖然常常優(yōu)先選用濕法，
但也廣泛應(yīng)用空氣分級法。
重力沉降技術(shù)多數(shù)用于起初均勻的懸浮液，其中的顆粒
可在重力作用下沉降。在實踐中發(fā)現(xiàn)有兩種基本操作方式：具
有給定沉降速度的顆粒份額，是由沉降槽液面下某一深度的
固體濃度測定(增量技術(shù))或底部固體總累積量測定(累積
技術(shù))來確定的。
除測定顆粒投影面積(與顆粒表面積成正比)的光度沉
降儀外，所有重力沉降技術(shù)都測定以質(zhì)量表示的粒度分布。
光度沉降儀只對大于5微米左右的顆粒有效，因為對更細的
顆粒來說，光的波長可與顆粒粒度比較，幾何光學定律不再
適用，所謂消光系數(shù)就與粒度有密切關(guān)系。
在離心沉降中，轉(zhuǎn)鼓或管式離心機似乎已過時，在這方
面使用的幾乎全是盤式離心機。除了那些使用均勻技術(shù)的盤
式離心機而外，還設(shè)計了幾種盤式離心機，它們采用在清液
頂部引入薄層懸浮液的所謂“線動’’(1ine tart)或“雙層"
技術(shù)。這種操作方式使所得數(shù)據(jù)很容易進行計算，但也受到
所謂流動效應(yīng)的影響，該效應(yīng)是由顆粒穿過懸浮液層與清液
層的起始界面時引起的。這可用不同的方法來克服，但總還
是需要操作人員進行觀測的。線動技術(shù)的一個較大的缺點是
其固有的不穩(wěn)定性，因為在分析開始后的所有時間內(nèi)會出現(xiàn)
密度的逆轉(zhuǎn)(小半徑處的懸浮液密度大于“下部”大半徑處
的懸浮液密度)。線動技術(shù)和均勻技術(shù)均可按累積或增量方
式使用，但按增量方式用得較多。
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