本文標(biāo)題："接觸式AFM電子顯微鏡儀器的優(yōu)點(diǎn)有哪些"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過-----時(shí)間：2013-1-12 5:20:52
接觸式AFM電子顯微鏡儀器的優(yōu)點(diǎn)有哪些
掃描探針顯微術(shù)
(Scanning Probe Microscopy, SPM)
? 材料制造尺寸已由微米、次微米，逐漸發(fā)展至奈米級(jí)精密處理，高解析表面分析技術(shù)為重要關(guān)鍵技術(shù)之一。
? 掃描探針顯微術(shù)(SPM)具有原子級(jí)表面形狀解析度，并可檢測(cè)多種奈米級(jí)表面特性如力學(xué)特性、電性、磁性、熱性等等。
? 優(yōu)點(diǎn)為儀器體積小，樣品無需特殊處理，可在任何環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。
SPM除了極佳的影像解析度外，它對(duì)試片表面高度之起伏非常敏感，所以亦常用在偵測(cè)表面起伏之剖面形貌、鍍層之表面粗糙度……等。
一般說來，試樣表面高低差若在10nm以內(nèi)，則以SEM來檢測(cè)會(huì)因表面太過平滑而看不到影像，此種情況，可選用SPM來作檢測(cè)。AFM
的操作模式可分為三種:接觸式、非接觸式及輕敲式(TappingMode)。由于接觸式偵測(cè)的是探針與樣品間原子的排斥力，而排斥力
對(duì)距離非常敏感，所以接觸式AFM較容易獲得原子解析度．而其他兩種模式則相當(dāng)困難
后一篇文章：掃描顯微鏡的工作原理簡(jiǎn)介-上海光學(xué)儀器一廠 »
前一篇文章：« 掃描穿隧顯微鏡的原理-利用尖細(xì)的探針來掃描樣品表面
tags:技能,技術(shù),金相,金相顯微鏡,上海精密儀器,
接觸式AFM電子顯微鏡儀器的優(yōu)點(diǎn)有哪些,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/464.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/